SEM-EM8100F, Résolution 1nm@30kV(SE), Grossissement 15x-800, 000x

Il s'agit de la version de mise à niveau de l'EM8000, avec une accélération améliorée du tube E-Beam, un mode de vide variable, disponible pour observer un échantillon non conducteur à basse tension sans pulvérisation, un système d'exploitation simple, pratique et convivial, un plan de remodelage à plusieurs extensions. C'est également le premier FEG SEM qui a une résolution de 1 nm (30 kV).

Avantages :

1, canon à électrons Schittky, haute luminosité, bonne monochromaticité, petit spot de faisceau, longue durée de vie.

2, avec accélération du tube à faisceau électronique, décélération de l'étape en option

3, courant de faisceau stable, propagation à faible énergie

4, échantillon non conducteur à observer sans pulvérisation en basse tension

5, interface d'opération facile, pratique et conviviale

6, énorme étape motorisée à 5 axes

Caractéristiques: