SEM-EM8100F
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SEM-EM8100F, Résolution 1nm@30kV(SE), Grossissement 15x-800, 000x
Il s'agit de la version de mise à niveau de l'EM8000, avec une accélération améliorée du tube E-Beam, un mode de vide variable, disponible pour observer un échantillon non conducteur à basse tension sans pulvérisation, un système d'exploitation simple, pratique et convivial, un plan de remodelage à plusieurs extensions. C'est également le premier FEG SEM qui a une résolution de 1 nm (30 kV).
